https://inibudi.or.id/wiki/index.php?action=history&feed=atom&title=Mikroskop_Elektron_PemindaianMikroskop Elektron Pemindaian - Riwayat revisi2026-04-22T09:33:59ZRiwayat revisi halaman ini di wikiMediaWiki 1.43.0https://inibudi.or.id/wiki/index.php?title=Mikroskop_Elektron_Pemindaian&diff=6640&oldid=prevBudi: Batch created by Azure OpenAI2025-07-26T21:35:09Z<p>Batch created by Azure OpenAI</p>
<p><b>Halaman baru</b></p><div>Mikroskop elektron pemindaian atau [[Scanning Electron Microscope]] (SEM) adalah alat yang menghasilkan citra permukaan objek dengan resolusi tinggi. SEM sangat berguna untuk menganalisis morfologi dan topografi permukaan sampel.<br />
<br />
== Cara Kerja SEM ==<br />
SEM bekerja dengan memindai permukaan sampel menggunakan berkas [[elektron]]. Elektron yang dipantulkan dari permukaan dideteksi dan digunakan untuk membangun citra tiga dimensi.<br />
<br />
== Keunggulan SEM ==<br />
SEM mampu memperlihatkan detail permukaan hingga skala [[mikrometer]] dan [[nanometer]]. Alat ini sering digunakan dalam [[penelitian material]], [[biologi]], dan [[ilmu forensik]].<br />
<br />
== Keterbatasan SEM ==<br />
SEM memerlukan sampel yang konduktif atau harus dilapisi dengan [[logam]], serta umumnya dilakukan dalam kondisi [[vakum]].</div>Budi