Lihat sumber Mikroskop Elektron Pemindaian

Mikroskop elektron pemindaian atau [[Scanning Electron Microscope]] (SEM) adalah alat yang menghasilkan citra permukaan objek dengan resolusi tinggi. SEM sangat berguna untuk menganalisis morfologi dan topografi permukaan sampel.

== Cara Kerja SEM ==
SEM bekerja dengan memindai permukaan sampel menggunakan berkas [[elektron]]. Elektron yang dipantulkan dari permukaan dideteksi dan digunakan untuk membangun citra tiga dimensi.

== Keunggulan SEM ==
SEM mampu memperlihatkan detail permukaan hingga skala [[mikrometer]] dan [[nanometer]]. Alat ini sering digunakan dalam [[penelitian material]], [[biologi]], dan [[ilmu forensik]].

== Keterbatasan SEM ==
SEM memerlukan sampel yang konduktif atau harus dilapisi dengan [[logam]], serta umumnya dilakukan dalam kondisi [[vakum]].